Изобретение относится к физике реакторов и может быть использовано для измерения подкритичности реакторов атомных станций. Импульсный источник нейтронов ИИН помещают в ядерный реактор. Измеряют скорость счета детектора нейтронов до начала запусков ИИН (фон). Осуществляют запуск ИИН с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц и измеряют полное число нейтронов в ядерном реакторе n(t) как скорость счета детектора нейтронов x(t). При установившемся в среднем постоянном числе нейтронов в реакторе в течение времени Т измеряют Y(t) - число отсчетов детектора нейтронов в реакторе с дискретностью по времени ?t, и вычисляют скорость счета x(t) детектора нейтронов. По результатам этих измерений вычисляют значение параметра Sv. Вычисляют значение экспериментальной погрешности ?Sv. По калибровочной кривой ?k=f(Sv) находят искомую подкритичность. Изобретение позволяет повысить достоверность измерения подкритичности ядерного реактора за счет исключения методической погрешности. Способ измерения подкритичности ?k ядерного реактора, заключающийся в том, что помещают импульсный источник нейтронов ИИН в ядерный реактор, осуществляют запуск ИИН с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц, измеряют полное число нейтронов в ядерном реакторе n(t) как скорость счета детектора нейтронов x(t) при установившемся в среднем постоянном числе нейтронов в реакторе и определяют подкритичность ядерного реактора, отличающийся тем, что измеряют скорость счета детектора нейтронов до начала запусков ИИН (фон), а запуски ИНН прекращают после установления в среднем постоянного числа нейтронов в реакторе, после чего в течение времени Т измеряют Y(t) - число отсчетов детектора нейтронов в реакторе с дискретностью по времени ?t, и вычисляют скорость счета x(t) детектора нейтронов по результатам этих измерений, вычисляют значение параметра Sv по формуле Увеличенное изображение (открывается в отдельном окне) https://new.fips.ru/Archive//PAT/2012FULL/2012.05.10/DOC/RUNWC1/000/000/002/450/378/00000008.tif
где Xi - значения функции x(t) в моменты времени i·?t за вычетом фона,
вычисляют значение экспериментальной погрешности параметра Sv по формуле
Увеличенное изображение (открывается в отдельном окне) https://new.fips.ru/Archive//PAT/2012FULL/2012.05.10/DOC/RUNWC1/000/000/002/450/378/00000009.tif
где ?Sv - абсолютная погрешность параметра Sv,
Yi - числа отсчетов детектора в моменты времени i·?t за вычетом фона,
и по калибровочной кривой ?k=f(Sv) находят искомую подкритичность и погрешность измерения подкритичности.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что запуски ИИН прекращают через 5-6 мин.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что измеряют Y(t) в течение времени Т, равном 10?300 с.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что выбирают Т, равным 60 с.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что калибровочную кривую - зависимость подкритичности реактора от значений параметра Sv - рассчитывают из системы точечных уравнений кинетики.
где Xi - значения функции x(t) в моменты времени i·?t за вычетом фона,
вычисляют значение экспериментальной погрешности параметра Sv по формуле
Увеличенное изображение (открывается в отдельном окне) https://new.fips.ru/Archive//PAT/2012FULL/2012.05.10/DOC/RUNWC1/000/000/002/450/378/00000009.tif
где ?Sv - абсолютная погрешность параметра Sv,
Yi - числа отсчетов детектора в моменты времени i·?t за вычетом фона,
и по калибровочной кривой ?k=f(Sv) находят искомую подкритичность и погрешность измерения подкритичности.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что запуски ИИН прекращают через 5-6 мин.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что измеряют Y(t) в течение времени Т, равном 10?300 с.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что выбирают Т, равным 60 с.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что калибровочную кривую - зависимость подкритичности реактора от значений параметра Sv - рассчитывают из системы точечных уравнений кинетики.