Программа предназначена для расчета фактора корреляции рельефов подложки и пленочного покрытия по данным метода атомно-силовой микроскопии. Выполняет две функции: точное цифровое совмещение экспериментально полученных атомно-силовых изображений рельефов поверхностей и непосредственный расчет значения их степени согласованности (фактора корреляции).