Программа предназначена получения параметров кристаллической структуры материалов путем анализа данных порошковой рентгеновской (в т.ч. синхротронной) дифракции. Программа предусматривает расчет параметров элементарной ячейки кристаллических соединений для всех сингоний, кроме триклинной, получение размеров областей когерентного рассеяния (кристаллитов), значений микронапряжений. Расчет производится за счет анализа основных параметров дифракционных рефлексов одним из встроенных алгоритмов с автоматической калибровкой по выбранному кристаллографическому стандарту и моделированием диффузного фона дифракционной картины. Программа может быть использована в различных лабораториях, обладающих прибором для измерения рентгеновских дифракционных картин, включая экспериментальные станции на источниках синхротронного излучения.