Программа позволяет обрабатывать данные измерений, полученные методом спектральной рефлектометрии образцов тонких пленок металлов и диэлектриков, вычислять значения оптических характеристик (коэффициент преломления n и коэффициент поглощения k, толщина плёнки d и оптическая температура T) в реальном времени. Применение машинного обучения, написанного с использованием библиотеки TensorFlow 2, позволяет вычислять характеристики в 1000 раз быстрее, по сравнению с ньютоновскими методами и градиентным спуском. Программа написана на языке Python, имеет графический пользовательский интерфейс ввода данных, вывод результатов анализа может быть загружен в формате .csv. Тип ЭВМ: 64bit; ОС: Windows 10 и выше.