Программа предназначена для получения параметров структуры кристаллических материалов по данным порошковой рентгеновской дифракции. Программа рассчитана на определение параметров решетки, а также вычисление значений размеров кристаллитов и микронапряжений с помощью различных алгоритмов на основе списка дифракционных рефлексов. Добавление дифракционных рефлексов может производиться как в автоматическом, так и в ручном режиме, при этом сам пик моделируется одной из встроенных функций; аппаратное уширение определяется за счет автоматической калибровки по дифрактограмме кристаллографического стандарта. Тип ЭВМ: IBM РС-совмест. ПК; ОС: Windows. С++