Программа предназначена для определения параметров микроструктуры образцов – размеров областей когерентного рассеяния (кристаллитов) и величин микронапряжений. Расчет производится на основе информации о положениях и интегральных ширинах дифракционных рефлексов, определение которых происходит за счет моделирования профилей пиков одной из встроенных функций. Нужные параметры определяются с помощью нескольких методик для получения более точной информации, кроме того, автоматически производится расчет величин стандартных отклонений. С++