Программа предназначена для автоматической обработки серий температурно зависимых картин порошковой дифракции и получения структурных параметров - размеров элементарной ячейки, величин областей когерентного рассеяния (ОКР) и микронапряжений. Определение параметров происходит автоматически за счет встроенного алгоритма поиска и аппроксимации пиков на основе списка межплоскостных расстояний (d). Полученные параметры пиков (положение и интегральная ширина) используются для получения структурной информации. Автоматически полученные температурные зависимости параметров экспортируются в тестовый файл и в процессе расчета визуализируются на соответствующих графиках. Тип ЭВМ: IBM РС-совмест. ПК; ОС: Windows. С++