Программа ЭВМ служит для расчёта интенсивности дифракционных рентгеновских рефлексов в различных структурах с учётом эффекта аномальной дифракции. Программа принимает на вход номер дифракционного пика, а также: коэффициенты a1,...,a4, b1,...,b4,c для расчёта классической части атомного фактора рассеяния; файлы с таблицей f ' (Е), f '' (Е) - действительной и мнимой части аномальной поправки к атомному фактору рассеяния, в зависимости от энергии падающего излучения в интересующем нас энергетическом диапазоне; файл structure.dat с описанием кристаллической решётки. На данный момент поддерживаются только кубические, тетрагональные и ромбические типы решёток. В результате работы программы записывается файл с таблицей Ihkl(Е) зависимости интенсивности дифракционного рефлекса от энергии. Полученные данные затем могут быть использованы для теоретических предсказаний или для сравнения с экспериментальными данными дифракции. Delphi